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產品名稱:
菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL230
發布時間:
2025-05-28
產品品牌:
其他品牌
產品特點:
菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL230,菲希爾臺式測厚儀,FISCHER代理,菲希爾鍍層測厚儀
  菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL230的詳細資料:

核心技術與性能1

  • 測量原理:運用 X 射線熒光光譜法,實現對鍍層厚度的精準測量,采用無損檢測方式,具備自動聚焦功能,可保障樣品完整性與測量準確性。

  • 元素測量范圍:涵蓋 Cl(17)-U(92),最多可同時測量 24 種元素、23 層鍍層。

  • 硬件性能

    • 手動 X/Y 平臺:移動范圍≥95x150mm,可用工作臺面≥420x450mm,能滿足多樣品放置與測量需求。

    • 電動 Z 軸:支持手動 / 自動聚焦,移動范圍≥140mm,可適配不同高度樣品。

    • DCM 技術:采用測量距離補償法(DCM),可實現 80mm 深度的腔體樣品遠距離對焦測量。

    • 高壓調節:可變高壓支持 30KV、40KV、50KV 三檔調節,可靈活應對不同測試場景。

    • 準直器:配備 φ0.3 的圓形準直器,可提升測量精度,還有 φ0.1mm、φ0.2mm 及長方形 0.3mmx0.05mm 等可選準直器。

    • X 射線探測器:采用比例接收器,確保信號穩定接收。

    • 攝像頭:高分辨率 CCD 攝像頭,放大倍數 40 - 160 倍,便于樣品觀察定位,沿初級 X 射線光束方向觀察測量位置,有手動聚焦、十字線(帶有經過校準的刻度和測量點尺寸)、可調節亮度的 LED 照明,激光光點用于準確定位樣品。

軟件與數據處理1

  • 操作系統與軟件:基于 Windows 7 以上中文操作界面,搭載 WinFTM 專業測試軟件,配備連接 PC 和打印機的 USB 接口。

  • 統計計算功能:數據組集成時間和日期功能,具備平均值、標準偏差、最大值、最小值等統計計算;支持公差范圍輸入,可計算 CP 和 Cpk 值,超范圍自動報警提示。

  • 校準與判定:采用基本參數法,內置 12 純元素頻譜庫,實現無標準片校準測量;具備 MQ 值顯示,用于判斷測量程式與樣品匹配度,防止誤操作。

  • 標準片:配備 12 種基準純元素(Ag, Cu, Fe, Ni, Zn, Zr, Mo, Sn, W, Au, Pb, Cr)標準片。

儀器參數3

  • 電源要求:200V,50Hz,功率最大 120W(不包括計算機)。

  • 保護等級:IP40。

  • 外部尺寸:寬 x 深 x 高(mm)為 570x760x650。

  • 內部測量室尺寸:寬 x 深 x 高(mm)為 460x495x140。

  • 重量:107KG。

  • 使用溫度:10℃-40℃。

  • 存儲或運輸溫度:0℃-50℃。

  • 空氣相對濕度:≤95% 無結露。

應用領域2

  • 工業生產:測量大規模生產的電鍍部件,適用于汽車、航空航天、電子等行業的零部件鍍層檢測,如汽車發動機零部件、航空航天金屬結構件、電子設備外殼等的鍍層厚度測量和質量控制。

  • 電子行業:測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層,如芯片引腳、印刷線路板上的銅箔鍍層、金手指鍍層等,確保電子產品的電氣性能和可靠性。

  • 裝飾行業:測量超薄鍍層,例如裝飾鉻,用于家具、衛浴五金、飾品等裝飾性產品的鍍層厚度檢測,保證產品的美觀和耐用性。


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