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產(chǎn)品名稱：
 菲希爾進(jìn)口X熒光射線測厚儀XDL
發(fā)布時(shí)間：
 2025-04-16
產(chǎn)品品牌：
 Helmut Fischer/德國菲希爾
產(chǎn)品特點(diǎn)：
 菲希爾進(jìn)口X熒光射線測厚儀XDL
菲希爾X射線測厚儀，測量精度非常高，根據(jù)用戶的實(shí)際情況進(jìn)行選配定制
　 菲希爾進(jìn)口X熒光射線測厚儀XDL的詳細(xì)資料：

菲希爾進(jìn)口X熒光射線測厚儀XDL

菲希爾進(jìn)口X熒光射線測厚儀XDL

設(shè)計(jì)用途：能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF)， 用于測定超薄鍍層和溶液分析。

元素范圍：從元素 氯(17) 到 鈾(92)，配有可選的WinFTM® BASIC軟件時(shí)，最多可同時(shí)測定24種元素。

測量方式：從上往下；

設(shè)計(jì)理念：臺式儀器，測量向上開啟。

X射線探測：X射線接收器，比例接收器。

該系列型號采用定制，每一臺的設(shè)備都是根據(jù)用戶實(shí)際情況，測量需求所配置的。所以兼容性是非常高的。

測量距離：0~80mmsh使用自研的DCM測量距離補(bǔ)償法。

樣品定位：視頻系統(tǒng)，高分辨率CCD彩色攝像頭，沿著初級X射線光束方向觀察測量位置
產(chǎn)品相關(guān)關(guān)鍵字： 菲希爾測厚儀 X熒光射線 進(jìn)口測厚儀 XDL測厚儀
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